同步测得薄膜热物性和热电性能参数？林赛斯的TFA为您实现！

　　样品几何尺寸、物质组分、热分布不均等等的影响导致的一些结果误差，是否让您在测量薄膜的热分析参数时头疼不已？
 

　　在此林赛斯的薄膜综合物性分析仪（TFA）给您提供了的解决方案。导热系数、电阻率、电导率、塞贝克效应，薄膜的霍尔效应等一次测得，不受其他因素影响，结果可靠。
 

　　TFA采用芯片设计，样品与传感器紧密接触，构成一个缩小的热带法导热测试模型；还可配置锁相放大器等控制设备，以使用3ω方法，对样品的in-plane和Cross-plane导热进行测量。
 

　　同时TFA可以测量不同材质的样品，金属、陶瓷、半导体等无机薄膜或者有机薄膜。
 

林赛斯还为广大科研工作者提供三个可选?？?，根据需要添加：
 

　　1、瞬态导热测量?？?，使用锁相放大器，配置3ω测量单元，可以测量平面和交叉面导热系数，比热等；
 

2、霍尔效应测量?？?，配置磁场单元，可以测量霍尔电压、迁移率和载流子浓度。
 

　　3、低温附件，包括液氮控制器，杜瓦罐等。加装低温附件后，使用温度可扩展至-150℃-400℃。样品架两侧均安装有LN2管道，有利于样品两侧的温度控制。