塞贝克系数测定仪的主要构成分析

　　塞贝克系数测定仪可用于测量某些材料的塞贝克系数（热电系数）；塞贝克系数测定仪是根据地质、矿业、物探、半导体科研院所的需求而设计的新型自动化数字化热电系数测量仪，用于测量具有类似半导体特性的各种矿物，如黄铁矿等及一般半导体材料的热电系数。在某些矿物和半导体材料的研究中测取热电系数具有重要的用途和意义。
　　塞贝克系数测定仪适合于矿业、地质、物探、半导体等有关科研院所和高等学校使用。适合于测量直径在0.1~1.0mm之间的微小晶体的热电系数和导型。
　　塞贝克系数测定仪主要由以下几部分构成：
　　1、控制箱体：箱体由两部分组成，上箱左侧设有手动按钮，箱内安装双试件测定装置，下箱安装制冷系统，气压传动控制系统。
　　2、微机控制系统：由高配置工业控制计算机、打印机组成。完成检测信号采集、处理、温控、时控计算、报表打印等功能。
　　3、双试件测定装置：由加热单元和两个冷单元组成。其中冷单元可根据试件的不同厚度由传动系统自动调节空间位置。
　　4、制冷系统采用直冷式的制冷方式，冷却侧板。