霍尔效应测量系统的测试流程

霍尔效应测量系统是一种用于材料科学、信息科学与系统科学领域的仪器，主要用于研究光电材料的电学特性，可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。

 

测试流程：

 

1、接通电源，打开电脑。

2、调整仪器，放置准备好的样品。

3、抽真空。

4、设置参数。

5、加液氮至所需温度条件。

6、测量，读取结果，保存。

7、断开电源，关闭电脑。

8、待样品冷却至常温在大气压下取样。

 

霍尔效应测量系统 L79/HCS可用于半导体组件性能表征，包括:迁移率，电阻率，载流子浓度和霍尔常数。

 

特点：

 

• 载流子浓度

• 电阻率

• 迁移率

• 电导率

• α (水平电阻值/垂直电阻值)

• 霍尔常数

• 磁致电阻